Ölçüm sistemiASML
YieldStar S-200B
Ölçüm sistemi
ASML
YieldStar S-200B
Üretim yılı
2011
Durumu
Kullanılmış
Konum
Dresden 

Resimleri göster
Haritayı göster
Makineye ait bilgiler
- Makine tanımı:
- Ölçüm sistemi
- Makine üreticisi:
- ASML
- Model:
- YieldStar S-200B
- Üretim yılı:
- 2011
- Durumu:
- mükemmel (kullanılmış)
- işlevsellik:
- tamamen fonksiyonel
Fiyat ve Konum
Teklif detayları
- Listeleme kimliği:
- A19967480
- Referans no.:
- DV10125
- Son güncelleme tarihi:
- 10.09.2025
Açıklama
Optical overlay metrology system, Advanced Semiconductor Materials Lithography Stand-alone Overlay Metrology System for 300 mm wafers, YieldStar S 200B
Model: S200B
Type: YieldStar
Year of manufacture: 2011
Technical specifications:
Wafer size: 300 mm (12")
Laser source: LPPS, water cooling
Chodpsxbnt Eefx Ad Aec
General information:
The YSS200B is an optical overlay measurement system used for fast and high-precision measurement of overlay deviations on 300 mm wafers – typically for post-etch inspection and as a stand-alone system for process control in semiconductor manufacturing.
Bu ilan otomatik olarak tercüme edildiğinden bazı çeviri hataları oluşmuş olabilir.
Model: S200B
Type: YieldStar
Year of manufacture: 2011
Technical specifications:
Wafer size: 300 mm (12")
Laser source: LPPS, water cooling
Chodpsxbnt Eefx Ad Aec
General information:
The YSS200B is an optical overlay measurement system used for fast and high-precision measurement of overlay deviations on 300 mm wafers – typically for post-etch inspection and as a stand-alone system for process control in semiconductor manufacturing.
Bu ilan otomatik olarak tercüme edildiğinden bazı çeviri hataları oluşmuş olabilir.
BELGELER
19967480-01.pdf (PDF)Tedarikçi
Not: Ücretsiz kaydolun veya giriş yapın, tüm bilgilere erişmek için.
İlk kayıt tarihi: 2014
Telefon & Faks
+49 351 8... ilanlar
İlanınız başarıyla silindi
Bir hata oluştu