Bileşen

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Üretim yılı: 2025, Durumu: yeni, Orta boy paketler, çantalar için X-Ray muayene sistemi. Gıda veya gıda dışı maddelerde bulunan metal, cam, taş, plastik vb. yabancı cisimlerin tespiti için uygundur. - Özellikler: Konveyör bant genişliği: 410 mm; Tespit doğruluğu: Pb Ø 0,2 mm'den itibaren, Fe Ø 0,28 mm'den itibaren, SUS Ø 0,28 mm'den itibaren, taş, cam gibi metal olmayanlar Ø 1,2 mm'den itibaren; X-ışını gücü: 80 kVp, 1,25 mA; Dedektör çözünürlüğü: 0,4 mm; X-ışını emisyonları: < 1usv/h; Konveyör bant yüksekliği: 850 ± 30 mm; Konveyör bant hızı (ürüne bağlı): 10 – 100 m/dak; Kullanıcı arayüzü: 15" dokunmatik ekran; Yazılım: intellisens®X-ray; Çalışma sıcaklığı: 5 – 35 °C; Ejeksiyon sistemi: ihtiyaca göre opsiyonel olarak mevcuttur; Güç: 220VAC, 50/60Hz; Sistem boyutları: U900xG920xY1825 mm; Ağırlık: 350 kg. Lütfen yeni fiyatlarımızın genellikle kullanılmış ürün fiyatlarından daha düşük olduğunu unutmayın. Paketleme görevinizi bize sorun ve anlatın. - Stoklarımızda genellikle 30-50 adet yeni makine hemen teslim edilebilmektedir. Ayrıca, müşteri spesifikasyonlarına göre üretilen makineler için yaklaşık 3 haftalık çok kısa teslimat sürelerimiz bulunmaktadır. - Tüm makinelerimiz tam garantilidir. Iodpfx Aev Nm Inef Heik

Durumu: kusurlu yedek parçası bulunmakta (kullanılmış), Oxford Instruments X-Strata 960 X-Işını Floresans Analiz Cihazı – Yedek Parça Kaynağı / Arızalı Ürün Açıklaması: Satışa sunulan ürün, Oxford Instruments X-Strata 960 model kullanılmış bir X-ışını floresans analiz cihazıdır. Cihaz, bir laboratuvarın sökülmesi sonucu temin edilmiştir ve yalnızca yedek parça temini veya onarım amaçlı olarak satılmaktadır. Cihazın çalışırlığı test edilmemiştir – bu nedenle satış kapsamında arızalı olarak değerlendirilir. Teknik Özellikler – Oxford Instruments X-Strata 960 (bağlayıcı değildir) Özellik Açıklama Model: X-Strata 960 Üretici: Oxford Instruments Analiz Metodu: X-ışını floresans analizi (XRF) Kullanım Alanları: Kaplama kalınlık ölçümü, malzeme analizi, değerli metal testi Ölçüm Geometrisi: Konfigürasyona bağlı olarak üstten veya alttan ışınlı Işın Kaynağı: X-ışını tüpü (örn. Rodyum anotlu), 50–100 W güç Iodpfxshaapfo Af Heik Dedektör: Orantılı sayaç veya silikon drift dedektör (SDD), modele göre değişir Ölçüm Aralığı: Kaplama kalınlığı yaklaşık 0,005 – 50 µm (malzemeye bağlı olarak) Spot Boyutu: Yaklaşık 15 μm – 1 mm (kolimatöre göre) Z Ekseni: Motorlu, yaklaşık 230 mm ölçüm yüksekliğine kadar Numune Odası (G × D × Y): Yaklaşık 580 × 510 × 230 mm Numune Masası: Manuel veya motorlu (200 × 200 mm veya daha büyük, donanıma bağlı olarak) Odaklama Sistemi: Optik/Lazer odak, kısmen otomatik İşletim Sistemi: Windows tabanlı analiz yazılımına sahip entegre endüstriyel PC Güç Beslemesi: 220–240 V / 50–60 Hz / yaklaşık 500–800 W Cihaz Ağırlığı: Yaklaşık 150–200 kg (modele göre değişir) Durumu: Kullanılmış / arızalı / yedek parça kaynağı olarak Teslimat Kapsamı: Görsellerdeki bileşenlerle sınırlı – aksesuar veya yazılım dahil değildir Önemli Notlar: Satış, çalışırlık garantisi olmaksızın arızalı cihaz olarak yapılmaktadır. Ürün, yedek parça temini veya tamir amacıyla sunulmaktadır. Fonksiyon, tamlık veya teknik parametrelere dair hiçbir garanti verilmez. Ticari satış olup, Alman Hukukunun 447. maddesi uyarınca tüm maddi kusur sorumluluğu hariç tutulmuştur (mesafeli satış). Teslimat İçeriği: - Oxford Instruments X-Strata 960 - Görsellerdeki tüm bileşenler Ekstra parça, aksesuar veya dokümantasyon yalnızca açıkça belirtilmişse dahildir. Nakliye & Teslimat: - Teslim alma mümkündür ve tercihen Borken’de gerçekleştirilecektir - Kargo, önceden anlaşma ile mümkündür. (Teknik bilgilerde değişiklik ve hata yapma hakkımız saklıdır!) Diğer sorularınızı memnuniyetle telefonla yanıtlayabiliriz.

Üretim yılı: 2016, Durumu: mükemmel (kullanılmış), Otomatik X-ışını İncelemesi Görünür veya gizli olsun, BGA, QFN, THT, LED, LGA ve diğer lehim bağlantılarının incelenmesi için. Diğer Özellikler: Çevrimdışı istasyon ve onarım istasyonu dahil İşletim Sistemi: Windows 7 Ultra yüksek hızlı satır tarama CCD dedektörleri İnceleme alanı: 450 mm - 400 mm Görüntü edinimi: 2D, 2.5D, 3D (düzlemsel BT ile dilim görüntüleri) PCB boyutları: 60 - 450 x 50 - 400 mm AXI çözünürlüğü: 6 - 30 µm / piksel AOI: Kamera görüş alanı: 42 mm x 42 mm Çözünürlük: 21 µm İnceleme yüksekliği: -3 ila 7,5 mm Iiedpewpuadofx Af Hok Optik: telesentrik Taşıma yüksekliği: 950 mm +/- 25 mm Arayüz: SMEMA Genişlik ayarı: otomatik

Üretim yılı: 2016, Durumu: işlem için hazır (kullanılmış), Yeni bir Anritsu X-ray muayene sistemi kullanıma sunuldu. X-ışını gücü: 100W, maks. algılama genişliği: 240mm, maks. algılama yüksekliği: 120mm, 2kg ile 5kg arası algılama hızı: 10m-60m/dak, 2kg'a kadar algılama hızı: 60m-90m/dak, 5kg ile 10kg arası algılama hızı: 10m-40m/dak, gövde malzemesi: paslanmaz çelik, makine ağırlığı: yaklaşık 255kg, çalışma saati: 50 saatten az. Makinenin konveyör bandında ve radyasyon koruma perdelerinde herhangi bir aşınma görülmemektedir. Dokümantasyon mevcuttur. Yerinde inceleme imkânı mevcuttur. Iodpfxovzr Auj Af Heik

Durumu: kullanılmış, PANalytical X’Pert PRO MPD X-ray Diffractometer (XRD) Excerpt from Service Report: Device: PANalytical X’Pert PRO MPD Date: 07.07.2021 Work carried out: Iiodpfx Aswycatsf Hsk - Reinstallation and commissioning of the system - Connection of external supply lines - Warm-up phase - Complete alignment of the goniometer and other components - Maintenance, including replacement of defective parts Spare parts used: L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERY. NI-CD FAN FOR X-CELERATOR UNIT FAN FILTER FILTER, WATER Motor PW3050 ("Device was not tested in our facility") The X’Pert PRO MPD is a highly versatile and powerful X-ray diffractometer (XRD) for structural characterization of crystalline materials. It is ideal for pure research as well as for routine applications in industry and university environments. Its modular design, rapid detection, and temperature and atmosphere control make it suitable for both standard analyses and complex in-situ experiments. Key features: Different measuring geometries possible: - Reflection in Bragg-Brentano (θ–2θ) mode - Transmission geometry for powders in capillaries - Optional: SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) for nanostructure analysis Radiation source and detectors: - Typically copper anode (Cu-Kα, λ ≈ 1.54 Å) - X’Celerator detector (1D, ultra-fast) for parallel data acquisition Modular system with PreFIX technology: - Quick changes of optics and sample stages without recalibration In-situ measurements at high temperatures: - Measurements possible up to approx. 1200°C - Controlled atmosphere: air, nitrogen, oxygen (reducing atmosphere limited) Typical applications: - Phase analysis and quantitative Rietveld refinement - Determination of crystallite size, microstrain, residual stress - In-situ studies of phase transitions, oxidation, crystallization, etc. - SAXS measurements for analysis of nanoparticles and pore structures - Wide range of sample types: powders, thin films, ceramics, pharmaceuticals, catalysts, and more Technical specifications (typical): Property & Specification Angle range (2θ): approx. 0.5° to 150° Step size: up to 0.002° or finer Goniometer: vertical, 0–0, radius approx. 240 mm Temperature range: room temperature up to approx. 1200°C Atmosphere: air, N₂, O₂ (reducing atmosphere limited) Detectors: X’Celerator (1D), proportional counter Distribution & application sites: The X’Pert PRO MPD is in use worldwide, e.g. at: Universities (ETH Zurich, TU Dresden, University of Vienna) Research institutes (e.g. Max Planck Institutes, ICN2, IS2M) Industry (e.g. materials development, pharmaceutical, chemical) Condition: used Scope of delivery: (see image) (Subject to change and errors in technical specifications. All information without guarantee!) If you have further questions, we are happy to answer them by phone.

Durumu: iyi (kullanılmış), Helmut Fischer Fischerscope X-ışını floresan kaplama kalınlığı ölçümü XDL-XYmZ Iedpfxew Hbkdo Af Hoik